研究成果紹介 | |
| (Updated on May 17,2015) | |
【研究題目】 タイミングウインドウ内の電荷供給量によるICの電流テスト法に関する研究 | |
| 研究目的 | |
| 電源から回路に流れる電源電流を測定し回路を検査する検査法は「電流テスト法」と呼ばれている。 回路に断線や短絡故障が発生すると、回路への検査入力印加後に流れる電源電流値だけでなく、ある時間範囲（以後、「タイミングウインドウ」と呼ぶ）内に電源から供給される電荷量に顕著な影響が現れる。 本研究では従来の電流テスト法のように電源電流値により検査するのでなく、タイミングウインドウ内で電源からICに供給する電荷量で検査可能にするIC内組み込み型検査回路を開発し、それを用いた検査法とその検査入力生成法の開発とその検査能力を明らかにすることを目的としている。 | |
| 研究成果発表 | |
| 本研究に関して下記の学会で発表した。 | |
| (1)Daisuke Suga, Masaki Hashizume, Hiroyuki Yotsuyanagi and Shyue-Kung Lu :
Electrical Interconnect Test Method of 3D ICs by Injected Charge Volume,
Proc. of IEEE 3D System Integration Conference 2015, pp.TS8.19.1--TS8.19.5, 仙台, Sep. 2015. | |
| (2)Daisuke Suga, Hiroyuki Yotsuyanagi, Hiroyuki Yotsuyanagi and Masaki Hashizume :
Electrical Test for Open Defects in CMOS ICs by Injected Charge,
Proc. of International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers and Communications 2015, pp.653--656, Seoul, Jun. 2015.
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| (3)菅 大介, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 :
電荷注入量によるIC間配線の電流テストの可能性評価,
電気関係学会四国支部連合大会講演論文集, 96頁, 2015年9月 | |