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【概要】 本研究室は「電子回路工学」分野の教育・研究を担当している研究室です。 電子回路はパソコン、携帯電話、TV、自動販売機など、現在、様々な電子機器や電子装置内で使われています。電子回路はプリント配線板の上に抵抗、コンデンサやICなどを半田付けして作られています。ちなみに下の写真は携帯電話の内部の写真です。  (1)アナログ電子回路 (2)ディジタル電子回路 研究に関しては、主としてディジタル電子回路の設計と検査に関して行っています。 【研究の背景】 現在、コンピュータ回路を代表とするディジタル電子回路（通称「論理回路」）は計算機を用いて自動設計できるようになっています。 また、IC製造技術の進歩により、複雑な機能を持つ論理回路をIC内やプリント配線板上に作れるような状況になっています。 その結果、現在、複雑な機能を持つ論理回路は少し経験を積めば、誰でも簡単に作れるような時代になっています。 その一方で、作られた論理回路が正しく作られているかどうか調べるかことが大きな問題となっています。今までに開発された検査手法で現在作製可能な回路を検査すると、膨大な検査時間を必要とし、現実には十分検査せずに市場に出さなくてはならない状況になっています。 ディジタル電子回路は様々な電子機器の中心的役割を果たしますので、それが故障すると銀行のオンラインシステムの運用停止のような非常に大きな社会的問題が発生します。そのため、新しい検査法の開発と、検査容易化設計(design for testability)法の開発（検査を容易にする設計法）が急務となっています。 そのような状況下、本研究室では、主に「論理回路の設計とテスト(Design & Test)法」に関する研究を行っています。 【我々のアプローチの特異性】 我々は今までに培ってきたアナログ電子回路設計や開発に関する経験や知識を基に、論理回路をアナログ電子回路としてとらえ、設計したり電気的に検査しようとする点が、他の研究者達のアプローチと異なっています。 | |
| 【研究内容のキーワード】 論理ICの電流テスト法、 ピン浮きの電気的検査法、 低消費電力設計、 電流センサ回路設計、 電流テスト容易化設計法、 IC設計 | |
| 【研究概要紹介】 所属する研究室の研究概要紹介（但しPDFファイル）は こちら |
| 詳細は下記のページをご覧下さい。 |
| (1)論理ICの電気的テスト |
| (2)プリント配線板上に作製された論理回路の電気的テスト |
| (3)論理回路の検査容易化設計 |
| (4)低消費電力論理回路設計 |